（1）電子光學系統(tǒng)。電子束直徑0.1～1μm，電子束穿透深度1～3μm。被激發(fā)原子發(fā)射特征X射線譜過程如下：圍繞原子核運動的內層電子，被電子束的電子轟擊后，其他外層電子為補充轟擊出的電子而發(fā)生躍遷，在躍遷過程中釋放出能量，即發(fā)射出X射線。（2）X射線譜儀。測量各種元素產生的X射線波長和強度，并以此對微小體積中所含元素進行定性和定量分析。特征X射線圖像顯像管的原理是：X射線束入射到一已知晶面間距的晶體上（X射線分光光度計的彎曲晶體上），經衍射后各種波長的X射線按不同的布拉格角彼此分開，因此如轉動晶體，改變衍射角，同時以兩倍于晶體的轉速轉動計數(shù)器，就可以依次測量出各種元素所產生的X射線波長和強度，達到定性和定量分析的目的。當某一X射線光子進入計數(shù)管后，管內氣體電離，并在電場作用下產生電脈沖信號。黃浦區(qū)品牌探針商家

基因探針，即核酸探針，是一段帶有檢測標記，且順序已知的，與目的基因互補的核酸序列(DNA或RNA)?；蛱结樛ㄟ^分子雜交與目的基因結合，產生雜交信號，能從浩瀚的基因組中把目的基因顯示出來。根據(jù)雜交原理，作為探針的核酸序列至少必須具備以下兩個條件：①應是單鏈，若為雙鏈，必須先行變性處理。②應帶有容易被檢測的標記。它可以包括整個基因，也可以**是基因的一部分；可以是DNA本身，也可以是由之轉錄而來的RNA。DNA探針根據(jù)其來源有3種：一種來自基因組中有關的基因本身，稱為基因組探針（genomic probe）；另一種是從相應的基因轉錄獲得了mRNA，再通過逆轉錄得到的探針，稱為cDNA探針（cDNA probe）。與基因組探針不同的是，cDNA探針不含有內含子序列。此外，還可在體外人工合成堿基數(shù)不多的與基因序列互補的DNA片段，稱為寡核苷酸探針。徐匯區(qū)優(yōu)勢探針售價“Wi-Fi信道掃描工具”處于被動監(jiān)測模式,無需用戶主動連接某個WiFi,需打開手機WiFi功能時即可捕獲。

探針的標記也可以采用隨機引物法，即向變性的探針溶液加入6個核苷酸的隨機DNA小片段，作為引物，當后者與單鏈DNA互補結合后，按堿基互補原則不斷在其3’OH端添加同位素標記的單核苷酸，這樣也可以獲得比放射性很高的DNA探針。DNA探針是以病原微生物DNA或RNA的特異性片段為模板，人工合成的帶有放射性或生物素標記的單鏈DNA片段，可用來快速檢測病原體。DNA探針將一段已知序列的多聚核苷酸用同位素、生物素或熒光染料等標記后制成的探針?？膳c固定在硝酸纖維素膜的DNA或RNA進行互補結合，經放射自顯影或其他檢測手段就可以判定膜上是否有同源的核酸分子存在。

電子探針儀鏡筒部分的構造大體上和掃描電子顯微鏡相同，只是在檢測器部分使用的是X射線譜儀、專門用來檢測X射線的特征波長或特征能量，以此來對微區(qū)的化學成分進行分析。因此，除專門的電子探針儀外，有相當一部分電子探針儀是作為附件安裝在掃描電鏡或透射電鏡鏡筒上，以滿足微區(qū)組織形貌、晶體結構及化學成分三位一體同位分析的需要 [1]。用波長色散譜儀（或能量色散譜儀）和檢測計數(shù)系統(tǒng)，測量特征X射線的波長（或能量）和強度，即可鑒別元素的種類和濃度。后期生產的儀器，可作X射線背散射照相、照相。

為了制備cDNA 探針，首先需分離純化相應mRNA，這從含有大量mRNA的組織、細胞中比較容易做到，如從造血細胞中制備α或β珠蛋白mRNA。有了mRNA作模板后，在逆轉錄酶的作用下，就可以合成與之互補的DNA(即cDNA)，cDNA與待測基因的編碼區(qū)有完全相同的堿基順序，但內含子已在加工過程中切除。寡核苷酸探針是人工合成的，與已知基因DNA互補的，長度可從十幾到幾十個核苷酸的片段。如*知蛋白質的氨基酸順序量，也可以按氨基酸的密碼推導出核苷酸序列，并用化學方法合成。只要令探測器連續(xù)進行2θ角的掃描，即可在整個元素范圍內實現(xiàn)連續(xù)測量。長寧區(qū)挑選探針商家

能進行現(xiàn)場分析。無需把分析對象從樣品中取出，可直接對大塊試樣中的微小區(qū)域進行分析。黃浦區(qū)品牌探針商家

利用電子探針分析方法可以探知材料樣品的化學組成以及各元素的重量百分數(shù)。分析前要根據(jù)試驗目的制備樣品，樣品表面要清潔。用波譜儀分析樣品時要求樣品平整，否則會降低測得的X射線強度。定性分析1 點分析用于測定樣品上某個指定點的化學成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點分析結果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征X射線信號同時檢測和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。2 線分析用于測定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測量的某元素特征X射線信號（波長或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征X射線強度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的X射線強度分布。下圖為50CrNiMo鋼中夾雜Al2O3的線分析像。可見，在Al2O3夾雜存在的地方，Al的X射線峰較強。黃浦區(qū)品牌探針商家

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